研究了一种具有低中空间表面误差的碳化硅光学表面的制造工艺。在硬质陶瓷如碳化硅中,由于刀具的周期性磨损率、振动和刀具变形,在快速非球面磨削中的中高空间频率(MSF)表面误差被放大。

电解工艺修整(ELID)被认为是缓解这些现象和减少MSF和HSF误差产生的一种解决方案。这样做将通过提高去除效率降低制造快速非球面的总成本,同时随后通过平滑减少下游MSF误差校正的需要。

这项工作是由孔径光学科学公司/Flemming Tinker公司的Kai Xin和Flemming Tinker为Goddard空间飞行中心完成的。欲了解更多信息,请致电戈达德创新伙伴关系办公室(301)286-5810。gsc - 16483 - 1


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本文首次发表于2014年7月号NASA技金宝搏官网术简介杂志。

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